배경 : 방실결절 회귀성 빈맥(AVNRT)의 완속전도로(slow pathway, SP) 전극도자 절제술 시행 후 급속전도로(fast pathway, FP)의 전기생리학적 특성이 달라지는 것으로 알려져 있다. 이의 원인으로는 자율신경계 활동도의 변화, electrotonic influence의 변화 및 heating 에 의한 thermal effect로 FP로의 전도 특성의 변화 등으로 설명되고 있다. 저자들은 냉각도자 절제술을 이용하여 SP의 절제/변조 후 FP의 불응기의 변화를 측정함으로서 급속전도로의 전기생리학적 특성의 변화기전에 대해 알아보고자 하였다.
방법 : 전기생리학 검사로 이중 전도로가 증면된 slow/fast형 AVNRT 환자 44명(male :16, 47.9±13.6세) 을 대상으로, 냉각도자 절제술이 시행된 환자군(Cryo group : 32명, 49.2±12.4세)과 고주파 절제술이 시행된 환자군(RF group : 12명, 46.5±14.0세) 에서 시술 전, 후의 SP 및 FP 불응기(effective refractory period: ERP)와, 동율동 간격과 AH 간격을 기록하였다.
결과 : 대상환자 42명중 33명에서 SP의 절제, 11명에서 SP의 변조가 시행되었다. Cryo 군의 경우 FP 의 시술 전, 후에 각각 측정되어진 ERP 값은 의미 있게 감소하였으나(367±80 msec; 295±61 msec, p<0.01), 동율동 간격(820±105 msec; 806±106 msec, p=0.47)과 AH 간격(87±17 msec; 83±22 msec, p=0.22)은 차이를 보이지 않았다. RF 군에서도 시술 전, 후 ERP 값은 의미 있게 감소하였으나(314±49 msec; 255±36 msec, p<0.05), 동율동 간격(695±134 msec; 684±164 msec, p=0.67)과 AH 간격(75.0±19.8 msec; 74.1±20.0 msec, p=0.60)은 변화가 없었다.
결론 : 시술 전, 후 자율신경계 활동도에 큰 변화가 없었던 방실결절 회귀성 빈맥 환자에서 전극도자 절제술 및 냉각도자 절제술 전, 후에 측정된 FP의 ERP 값이 의미 있게 감소된 것으로 볼 때 도자 절제술 후 급속전도로의 전기생리학적 변화의 주 기전이 heating에 의한 thermal effect 가 아닌 electrotonic influence 라는 것을 확인할 수 있었다.
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